X-RAY无损检测成像系统-平板探测器 安竹光
高性能的动态平板探测器，图像好、曝光时间短、成像速度快和读出速度高等特点，可以实现1x1原图30fps帧速率，
2x2 binning60fps帧速率，同时提供适用于X射线实时成像应用。
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技术参数 |
规格 |
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探测器类别 |
非晶硅 |
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闪烁体 |
CsI GOS |
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图像尺寸(mm) |
160×130 |
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像素矩阵 |
1274×1024 |
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像素间距(um) |
125 |
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A/D转换(bits) |
16 |
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灵敏度(LSB/nGy, RQA5) |
1.4 |
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线性剂量(uGy, RQA5). |
40 |
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调制传递函数@ 0.5 LP/mm |
0.60 |
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调制传递函数@ 1.0 LP/mm |
0.36 |
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调制传递函数@ 2.0 LP/mm |
0.16 |
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调制传递函数@ 3.0 LP/mm |
0.08 |
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残影(%, 300uGy, 60s) |
<0.5 |
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量子探测效率@ 0.0 LP/mm (2.5uGy) |
0.73 |
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量子探测效率@ 1.0 LP/mm (2.5uGy) |
0.55 |
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量子探测效率@ 2.0 LP/mm (2.5uGy) |
0.45 |
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量子探测效率@ 3.0 LP/mm (2.5uGy) |
0.29 |
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空间分辨率(LP/mm) |
4.0 |
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帧速率(fps) |
15. |
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X-射线工作范围(kV) |
40/-/150 |
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传输方式 |
千兆网线 |
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功率(W) |
12 |
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电源(V) |
DC24 |
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交流电源频率(Hz) |
50/-/60 |
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适配器输出电压(V) |
24 DC |
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探测器尺寸(mm) |
170×195×16mm |
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探测器重量(kg,不含线缆) |
1.0±0.1 |
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探测器外壳材料 |
碳板,铝合金 |
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存储温度(ºC) |
-20/-/55 |
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工作温度(ºC) |
5/-/35 |
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存储和运输湿度(%RH) |
10/-/75 |
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工作湿度(%RH) |
10/-/75 |
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